细信息
178 系列 — 带有专用控制/ 显示装置
技术参数: SJ-500
X 轴 (驱动部)
测量范围: 50mm
分辨率: 0.05μm
检测方法: 线性编码器
驱动速度: 0 - 20mm/s
测量速度: 0.02 - 5mm/s
移动方向: 向后
直线度: 0.2μm / 50mm
***: &plu***n;1.5° (倾角、有DAT 功能)
30mm (向上／向下)
检测器
范围／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm
检测方法: 无轨／有轨测量
测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型)
测针针尖: 金刚石、90o / 5μmR
(60o / 2μmR: 低测力型)
导头曲率半径: 40mm
检测方法: 差动电感式
控制器
显示: 7.5" 带背光的TFT 彩显
打印机: 内置热敏打印机
放大倍率: 水平: X10 至 X500,000、自动
垂直: X0.5 至 X10,000、自动
驱动装置的控制: 通过操纵杆手动手柄的操作
带专用控制器的高精度，高性能，袖珍型
表面粗糙度测量仪，操作简单，显示一目
了然。
特点
. 显示一目了然，操作简单。
配备高可见度7.5 英寸TFT LCD 屏幕。彩色
图标显示、触控式面板，显示更清晰，操
作更简单。
. 轻松***
使用专用控制器内置的操纵杆，轻松、快
速地***。小孔内侧的测量，需要对微
小测头进行微调。利用手动手柄，实现
轻松微调。
. 轻松设置表面粗糙度的测量条件。
利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS
粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以
往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松
输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的
绘图指令符号即可。
SV-2100M4
SV-2100S4
技术参数: SV-2100
X 轴 (驱动部)
测量范围: 100mm
分辨率: 0.05μm
检测方法: 线性编码器
驱动速度: 0 - 40mm/s
测量速度: 0.02 - 5mm/s
移动方向: 向后
直线度: 0.15μm / 100mm
Z2 轴 ( 立柱)
类型: 手动操作或电驱动
垂直移动: 350mm 或 550mm*
分辨率*: 1μm
检测方法*: 旋转编码器
驱动速度*: 0 - 20mm/s
* 仅适于电驱动型
检测器
范围／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm
检测方法: 无轨／有轨测量
测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型)
测针针尖: 金刚石、90o / 5μmR
(60o / 2μmR: 低测力型)
导头曲率半径: 40mm
检测方法: 差动电感式
控制器
显示: 7.5" 带背光的TFT 彩显
打印机: 内置热敏打印机
放大倍率: 水平: X10 至 X500,000、自动
垂直: X0.5 至 X10,000、自动
驱动装置的控制: 通过操纵杆手动手柄的操作
评估能力
评估轮廓
P (主轮廓), R (表面粗糙度轮廓), WC, WCA, WE, WEA, 包络
残余线、粗糙度 motif、波形 motif
评估参数
Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, ***, S, Pc, mr(c), dc, mr,
tp, Htp, Lo, Ir, Ppi, HSC, Da, Dq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2,
A1, A2, Vo, la, lq
粗糙度motif 参数: R, AR, Rx
波形motif 参数: W, AW, Wx, Wte
分析图表
ADC, BAC, 功率谱图
数显滤波器
2CR-75%, PC-75%、高斯滤波器、鲁棒样条
截止波长
ls: 0.25μm, 0.8μm, 2.5μm, 8μm, 25μm, 250μm、无滤波器
lc*: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
lf: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm、无滤波器
采样长度 (L)*
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm, 80mm
(仅适于SV-2100)
数据补偿功能
抛物线补偿、双曲线补偿、椭圆补偿、R 平面 (曲面)
补偿、锥面补偿、倾斜补偿
* 在 0.02mm 至50mm 的范围内可指定任意长度。
性能参数
型号SJ-500 SJ-500 SV-2100M4 SV-2100M4
货号* (mm) 178-532-01 178-532-