电子元件镀层膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非***及不接触的测量。电子元件镀层膜厚测试仪，除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。
电子元件镀层膜厚测试仪产品特点：
★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及***物质测量的精度。
★ 无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与***物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。
★ 能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析）
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
★ 绘图软件（选配件）
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
★ 电镀液容器（选配件）
★ 各种标准物质（选配件）
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