德国进口膜厚仪(XRF)是针对高要求用户设计的,能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖专利X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。德国进口膜厚仪(XRF)配备了半导体***适合测量薄到数NM的镀层,还能测量出范围从元素氯(Z=13)至铀(Z =92)。
德国进口膜厚仪(XRF)功能和应用:纳米薄膜(抗***膜), 太阳能电池薄膜(玻璃上的CdTe层)接插件上的金镀层,焊盘焊带上的锡铅合金镀层以及光阻涂层(模块 BETASCOPE?)。
在贯穿孔中表面覆铜和镀铜的厚度测量 (MASCOPE?/PHASCOPE?),不受背面铜层影响的多层板上的铜厚测量 (SR-SCOPE?)。铜上阻焊层的厚度(PERMASCOPE?)
在汽车配套工业领域的应用。包含了PERMASCOPE? 模块, NICKELSCOPE? 模块以及BETASCOPE? 模块的FISCHERSCOPE? MMS? PC2 可用于以下镀层厚度的测量需要
德国进口膜厚仪(XRF)主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描(指定面积),如:硬盘镀层、细微的线。有极高精度,可编程的XYZ测量台及大移动范围,测量室为长方形内槽设计,容许放入大面积的物件进行测量。
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