德国进口膜厚仪(XRF)是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。德国进口膜厚仪(XRF)配备了半导体***适合测量薄到数NM的镀层，还能测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z ＝92）。
德国进口膜厚仪(XRF)功能和应用：纳米薄膜（抗***膜）， 太阳能电池薄膜（玻璃上的CdTe层）接插件上的金镀层，焊盘焊带上的锡铅合金镀层以及光阻涂层（模块 BETASCOPE?)。
在贯穿孔中表面覆铜和镀铜的厚度测量 (MASCOPE?/PHASCOPE?)，不受背面铜层影响的多层板上的铜厚测量 (SR-SCOPE?)。铜上阻焊层的厚度(PERMASCOPE?)
在汽车配套工业领域的应用。包含了PERMASCOPE? 模块, NICKELSCOPE? 模块以及BETASCOPE? 模块的FISCHERSCOPE? MMS? PC2 可用于以下镀层厚度的测量需要
德国进口膜厚仪(XRF)主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（指定面积），如：硬盘镀层、细微的线。有极高精度，可编程的XYZ测量台及大移动范围，测量室为长方形内槽设计，容许放入大面积的物件进行测量。
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