SV-C3200S4三丰表面粗度轮廓仪

规格
型号
SV-C3200S4
(525-481-1/-2)
SV-C3200H4
(525-482-1/-2)
SV-C3200W4
(525-483-1/-2)
SV-C3200S8
(525-486-1/-2)
SV-C3200H8
(525-487-1/-2)
SV-C3200W8
(525-488-1/-2)
SV-***500S4
(525-441-1/-2)
SV-***500H4
(525-442-1/-2)
SV-***500W4
(525-443-1/-2)
SV-***500S8
(525-446-1/-2)
SV-***500H8
(525-447-1/-2)
SV-***500W8
(525-448-1/-2)
测量表面粗糙度时
测量范围
X 轴 (检测部) 100mm 200mm
Z1 轴 (检测部) 800μm / 80μm / 8μm
直线度(0.05+L/1000)μm　L 驱动长度(mm) 0.5μm / 200mm
分辨率Z1 轴 (检测部) 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
测力0.75mN (机身代码末尾带「-1」的机型) / 4mN (机身代码末尾带「-2」的机型)
测针针尖形状60º, 2μmR (机身代码末尾带「-1」的机型) / 90º, 5μmR (机身代码末尾带「-2」的机型)
对应尺寸JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
参数
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, P***, P􀏶q, Pm(rC), Pmr, P􀐎c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, R***, R􀏶q, Rm(rC),
Rmr, R􀐎c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, W***, W􀏶q, Wm(rC), Wmr, W􀐎c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,
A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, 􀏶a, 􀐕a, 􀐕q, Vo, Htp, NR, NCRX, ***, SR,
SAR, NW, SW, SAW
评价曲线
断面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹曲线、波纹曲线、滚动圆波形截面曲线、滚动圆波形曲线、包络残余线、
DF 曲线（DIN4776 / ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF (包络波纹曲线在评价MOTIF 时显示。)
分析图
负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、顶峰分布、倾斜角分布、
参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的分析)
曲线校正******方直线、R 面校正、椭圆校正、抛物线校正、双曲线校正、二次曲线校正、多项式校正(自动或任意2~7 次)、无校正
滤波器高斯滤波器、2CRPC75、 2CRPC50、 2CR75、 2CR50、准样条滤波器
测量轮廓形状时
测量范围
X 轴(检测部) 100mm 200mm
Z1 轴(检测部) 60mm (测臂水平位置&plu***n;30mm)
直线度0.8μm / 100mm 2μm / 200mm
指示精度
X 轴(检测部) &plu***n;(0.8+0.01L)μm　L 驱动长度(mm) &plu***n;(0.8+0.02L)μm　L 驱动长度(mm)
Z1 轴(检测部) SV-C3200 系列 : &plu***n;(1.6+ 􀊛 2H 􀊛 /100)μm, SV-***500 系列 : &plu***n;(0.8+ 􀊛 2H 􀊛 /100)μm　H : 为水平位置上的测量高度(mm)
分辨率
X 轴(检测部) 0.05μm
Z1 轴(检测部) SV-C3200 系列 : 0.04μm, SV-***500 系列 : 0.02μm
Z2 轴(立柱) 1μm
测力SV-C3200 系列 : 30mN (根据重量调整), SV-***500 系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换)
测针方向SV-C3200 系列 : 向上/ 向下(单独测量), SV-***500 系列 : 向上/ 向下(上下可连续测量)
通用时
Z2 轴(立柱) 移动量300mm 500mm 300mm 500mm
X 轴倾斜角度&plu***n;45º
驱动速度
X 轴0 ～ 80mm/s 外加手动
Z2 轴(立柱) 0 ～ 30mm/s 外加手动