X-RAY膜厚测试仪

X-RAY膜厚测试仪可应用于在线膜厚测量,测氧化物,SiNx,感光保护膜和半导体膜.也可以用来测量镀在钢,铝,铜,陶瓷和塑料等上的粗糙膜层. 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度.光干涉法是一种无损,***且快速的光学薄膜厚度测量技术,薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
X-RAY膜厚测试仪：　
1,可以测量多层膜中每一层的厚度
2,三维的厚度型貌
3,远程控制和在线测量
4,可做150mm or 300mm 的大范围的扫描测试
5,丰富的材料库:操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据,基本上的常用材料都包括在这个材料库中.用户也可以在材料库中输入没有的材料.
6,软件操作简单,测速快:膜厚测量仪操作非常简单,测量速度快:100ms-1s.
7,软件带有构建材料结构的拓展功能,可对单/多层薄膜数据进行拟合分析,可对薄膜材料进行预先模拟设计.
8,软件带有可升级的扫描功能,进行薄膜二维的测试,并将结果以2D或3D的形式显示.软件其他的升级功能还包括在线分析软件,远程控制模块等>膜厚仪的技术参数
X-RAY膜厚测试仪厚度测量:10纳米-250微米; 可以选择250nm-1100nm间任一波长,也可在该范围内选择多波长分析;
多年来，我们一直致力于为PCB厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的***服务。让客户满意，为客户创造***大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快！联系人：舒翠  136 0256 8074  0755-29371655  ***:2735820760