美国台式x射线膜厚仪

美国台式x射线膜厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
美国台式x射线膜厚仪可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:&plu***n;5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单
提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值
同比其他牌子相同配置的机器，bowman为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非***性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
美国台式x射线膜厚仪可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的***。可测量各类金属层、合金层厚度等。
美国台式x射线膜厚仪可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能
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