美国电镀x荧光膜厚仪是一款低成本***率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及***分析行业表现出***的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。 规格描述
美国电镀x荧光膜厚仪X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统
准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器
测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
基本分析功能采用基本参数法校正。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
***检测，如Au karat评价
材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测
美国电镀x荧光膜厚仪液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
精度高、稳定性好
美国电镀x荧光膜厚仪强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
***服务及支持
生产厂商:美国博曼（Bowman）
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