x射线X-RAY膜厚仪

金东霖科技是菲希尔仪器技术力量***为强大的大陆代理商.***销售：镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪,X射线元素分析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品RoHS检测仪；公司有多名经验丰富的销售、服务工程师，是菲希尔仪器在大陆指定委托的服务商，长期以来得到菲希尔厂家及广大客户的好评。
x射线X-RAY膜厚仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套专利系统完成的。
博曼膜厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。
检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍.
通过高精密度样品台可提供元素面分布图。 可对多达6层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。
博曼膜厚仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术***地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。
博曼膜厚仪可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。
测定元素：AL ～ U 。其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术能***佳地解决您的应用。
在准确度和重现性上具有***的性能。测量更小、更快、更薄
博曼膜厚仪比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。
这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套专利系统完成的。
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