x-ray膜厚测量仪

x-ray膜厚测量仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
x-ray膜厚测量仪整体描述： 
美国BOWMAN X-RAY 設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497 等國家和國際標準，主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射***系統。採用全新數***計算方法,採用***新的FP (Fundamental Parameter）強大的***腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
   采用半导体***，分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY***度提高了50%以上，   在测试薄金（Au)方面表现更为突出。
（2）、超常保固期：2年（24个月），较其它品牌整机延长一倍；
（3）、前沿的测量技术：所有产品均为美国原装进口，
       超低的售价：相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%
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