x荧光膜厚测量仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
x荧光膜厚测量仪可测元素范围：铝(AL) –铀(U)。
可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。
自动测量功能：编程测量，自定测量修正，测量功能。
底材修正：已知样品修正。
定性分析功能：光谱表示，光谱比较。
定量分析功能：合金成份，分析数据。
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公司主营：膜厚仪，膜厚测试仪