x荧光膜厚分析仪

x荧光膜厚分析仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
x荧光膜厚分析仪1,可以测量多层膜中每一层的厚度
2,三维的厚度型貌
3,远程控制和在线测量
4,可做150mm or 300mm 的大范围的扫描测试
5,丰富的材料库:操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据,基本上的常用材料都包括在这个材料库中.用户也可以在材料库中输入没有的材料.
6,软件操作简单,测速快:膜厚测量仪操作非常简单,测量速度快:100ms-1s.
7,软件带有构建材料结构的拓展功能,可对单/多层薄膜数据进行拟合分析,可对薄膜材料进行预先模拟设计.
8,软件带有可升级的扫描功能,进行薄膜二维的测试,并将结果以2D或3D的形式显示.软件其他的升级功能还包括在线分析软件,远程控制模块等.
联系人: 舒翠
手机:   13602568074
电话:   0755-29371655
传真:   0755-29371653
邮箱:   sc@
地址:   宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502