要求：涂层厚度测量
客户要求：
工件的图片如图，客户需要测量铺在工件上得硅胶片的厚度。工件是大型的工件，传感器能安装在支架上，在固定轨迹下测量工件的表面情况。
测量方案：
将激光测厚ZLDS102激光测距传感器固定在支架上，先测量一下传感器到工件（没有硅胶）的距离，把这个距离设定为一个零点。然后传感器在支架的带动下，沿着工件的轨迹扫描测量。在测量到没有硅胶的位置停止，并且发出报警信号。传感器可以实现实时测量。
激光测厚ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。
提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。
提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。
推荐型号：
ZLDS102-50-25-2k-232-U-IN-AL-CC-2
激光测厚的主要特点是在测量过程中，不需要测量出材料厚度的***尺寸，而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。
激光测厚工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。
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英国真尚有集团
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