x射线镀层测厚仪测量元素

x射线镀层测厚仪测量元素

x射线镀层测厚仪 XRF2000电镀镀层测厚仪/电镀膜厚测试仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非***性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的***。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统：液晶显示器，彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

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