电子产品低温试验标准 GB/T2423.1-2008
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验A低温
本部分代替GB/T2423.1—2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温》,与之相比,主要变化如下: ———删除了试验Aa:非散热试验样品 2009年6月17日 GB/T2421.1 电工电子产品环境试验第1 部分:总则(GB/T2421.1—2008 电工电子产品环境 2010年6月18日 2008年12月30日 2001年7月12日 GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温(应助). 本帖被 caballo3157 执行锁定操作(2010-11-07) 1981年8月10日 2009年3月24日 本试验不能用来考核仅由高温或低温所引起的影响,对这种影响,应使用高温或低温试验 方法。